参考点

用于引用 3D 物体

AESUB黑白点是使用结构型光扫描仪的理想参考点。它们在数字化过程中充当三维物体的标记。AESUB点是自粘的,可以理想地附着在AESUB的挥发型扫描喷雾上

  • 用于结构型的光扫描仪
  • 高粘性
  • 成卷
  • 撕裂线间隔20-30cm
  • 适用于所有挥发型AESUB喷雾剂
  • 用于激光扫描仪
  • 高粘性
  • 成卷
  • 撕裂线间隔20-30cm
  • 两排
  • 适用于所有挥发型AESUB喷雾剂
  • 用于激光扫描仪
  • 轻粘效果,易去除
  • 成卷
  • 撕裂线间隔20-30cm
  • 适用于所有挥发型AESUB喷雾剂
  • 用于结构型光扫描仪
  • 随即顺序,透明的
  • 成卷
  • 撕裂线间隔20-30cm
  • 适用于AESUB挥发型扫描喷雾
  • 最多11个反光6毫米目标,甚至更多的3毫米目标
  • 有磁铁或有线
  • 快速附着,扫描准备更简单
  • 碳纤维加强打印的复合材料
  • 模块化装配
  • 非常轻便和坚固框架
  • 完美的结合AESUB扫描点
  • 逆向反光参考点用于中型或大型组件的即时应用
  • 每个点位都有磁性
  • 可重复使用

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